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GB T12085光學和光學儀器環(huán)境試驗方法標準簡介
時間:2013/11/30 8:20:04
GB/T12085光學和光學儀器環(huán)境試驗方法標準共分為以下16個部分:
1、術語、試驗范圍;
2、低溫、高溫、濕熱;
3、機械作用力;
4、鹽霧;
5、低溫、低氣壓綜合試驗;
6、砂塵;
7、滴水、淋雨;
8、高壓、低壓、浸沒;
9、太陽輻射;
10、振動(正弦)與高溫、低溫綜合試驗;
11、長霉;
12、污染;
13、沖擊、碰撞或自由跌落與高溫、低溫綜合試驗;
14、露、霜、冰;
15、寬帶隨機振動(數字控制)與高溫、低溫綜合試驗;
16、彈跳或恒加速與高溫、低溫綜合試驗。
標準規(guī)定了低溫、高溫、濕熱試驗的試驗條件、試驗程序及環(huán)境試驗標記,適用于光學儀器、裝有光學零部件的儀器和光學零部件,標準是研究試驗的光學、熱學、化學及電學等特性受到溫度和濕度影響的變化程序。
試驗暴露在內部有調節(jié)氣壓或裝備有空氣循環(huán)的試驗箱,試驗箱有效工作空間中各處溫度應均勻,并應和控制點的數值一致,試驗箱壁上和頂上的凝結水不得滴落在試樣上,散熱試樣試驗時,應在相應的標準中規(guī)定溫度傳感器和定位安裝位置和數量。
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