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    首頁 > 新聞中心 > 高低溫試驗(yàn)箱基本參數(shù)檢定方法標(biāo)準(zhǔn)
	
        
	
        
	
        
      
        
        高低溫試驗(yàn)箱基本參數(shù)檢定方法標(biāo)準(zhǔn)
      
        
      
        
        
        		
      
        
      
        
        時(shí)間：2013/7/5 8:03:50
      
        
      
        
         
      
        
      
        
        
        
            
        
                  標(biāo)準(zhǔn)中制定了高低溫試驗(yàn)箱在進(jìn)行周期檢定時(shí)的檢定項(xiàng)目、檢定用主要儀器及要求、檢定條件、測(cè)量點(diǎn)當(dāng)我量及布放位置、檢定步驟、數(shù)據(jù)處理及檢定結(jié)果等內(nèi)容，適用于GB 2423.1-89《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法》、GB 2423.2-89《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法》和GB 2423.22-87《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法》、GB 2423.2-89《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)N：溫度變化試驗(yàn)方法》所用試驗(yàn)設(shè)備的周期檢定。
        
高低溫試驗(yàn)箱基本參數(shù)檢定方法的制定引用了如下標(biāo)準(zhǔn)：
        
GB/T 5170.1-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 總則
        
GB 2423.1-89 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法
        
GB 2423.2-89 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法
        
GB 2423.22-87 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)N：溫度變化試驗(yàn)方法
        
檢定項(xiàng)目為：溫度偏差、溫度平均變化速率、風(fēng)速、相對(duì)濕度、溫度恢復(fù)時(shí)間。        		
            
        
        
        		
      
        
      
        
         
      
        
      
        
        
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        ·高低溫試驗(yàn)箱基本參數(shù)檢定方法標(biāo)準(zhǔn)
        		
      
        
    
        		
    
    
        
      
      
        
        
      
        
      
        
        
      
        
      
        
        
        
          
        
            
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        GBT 12085.6-2010 光學(xué)
        GBT 12085.7-2010 光學(xué)
        GB10485-2007道路車輛外部照
        GBT 4857.7-92 ISO 2
        GBT 10593.1-2005 電工
        		
      
        
	  
        
		
      
        
    
        		
  
        

        

        
  
        
    
  
        
  
        
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